Centro de Investigaciones Científicas y Transferencia de Tecnología a la Producción

Estudio de muestras por Microscopía Electrónica de Barrido. (ST 3304)

El microscopio electrónico de barrido o SEM (de su nombre en inglés, Scanning Electron Microscope) utiliza un haz de electrones para barrer la muestra. La interacción de este haz con el material produce un conjunto de señales que pueden ser detectadas y procesadas para formar una imagen de la región superficial del objeto en estudio. Esto permite estudiar una muestra con gran resolución y escaso daño para la misma, ya sea con fines científicos, docentes o por interés profesional.

 

 

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